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万用表是一种多功能测量仪表，可以测量电压、电流和电阻等参数，使用万用表测量显存颗粒以及使用万用表COM接口进行此类测量并不是万用表的常规应用，并且具有相当高的复杂性，以下提供的方法更多是基于理论上的可能性，实际操作中可能需要根据具体情况做适当调整。
1、使用万用表测量显存颗粒：
* 显存颗粒的测量主要关注的是其电阻值，可以使用万用表的电阻档进行测量，将万用表的红黑两表笔分别接触显存颗粒的两端，然后查看万用表显示的电阻值，如果电阻值在正常的范围内，那么显存颗粒基本上就是正常的。
* 由于显存颗粒内部的结构较为复杂，包括大量的电容器和晶体管等，使用万用表可能无法准确测量其所有性能参数，如果操作不当，还可能对万用表或显存颗粒造成损坏，这种测量更多是一种基础检查，而不是精确的性能测试。
2、使用万用表COM接口测量：
* 万用表的COM接口通常是用于连接测试笔或探针的，如果要使用这个接口进行某种特殊测量，需要相应的测试工具和设备。
* 如果想要测量某些电子元件或电路板的连接性，可以使用这个接口连接测试笔或探针，然后按照万用表的使用说明进行操作，对于显存颗粒等特定部件的详细测量，可能需要更专业的工具和设备。
对于电子设备的精密测量，尤其是涉及到显存颗粒等复杂部件的测量，建议寻求专业人员的帮助，如果非专业人士尝试进行此类操作，可能会因为操作不当导致设备损坏或造成安全问题。
仅供参考，建议咨询专业的电子设备维修人员，获取更为准确和专业的信息。